NTC熱敏電阻性能對額溫槍測溫精度的影響(三）

 國家标準中對額溫槍的測(cè)溫精度有明確(què)要求，見下表：

考慮到額溫槍兩個标準溫度點的校準誤差和電路器件的系統誤差，封裝在熱電堆裏的NTC熱敏電阻性能導緻的誤差就不得不考慮。從下表可以看出，市場上B值精度爲±2%的産(chǎn)品是不能滿足額溫槍精度要求的，B值精度爲±1%的NTC熱敏電阻達到國家标準也很勉強。所以爲滿足額溫槍測(cè)溫精度要求，NTC熱敏電阻B值精度應盡可能選高。

需要特别指出的是NTC熱敏電阻作爲額溫槍裏熱電堆的溫度測(cè)量基準，不僅要求B值精度高、批量一緻性好
，更要求其可靠性要高、穩定性要好。NTC熱敏電阻的年漂移率一般必須控制在±0.4%以内，這樣由於(yú)其漂移造成的溫度誤差才能小於(yú)0.1℃/年。時恒電子生産的NTC熱敏電阻年漂移率小於(yú)0.04%，由此造成的溫度誤差小於(yú)0.01℃/年，10年累計也不會超過0.1℃。

事實上，時恒電子生産的由這款芯片做成的MF58熱敏電阻産品，多年以前就通過瞭(le)CQC 認證、UL、C-UL 認證，通過瞭(le)嚴酷度極高的 UL 标準中 10 萬次耐久性壽命測(cè)試、通過 AEC-Q200全性能試驗、環保 RoHS 檢測(cè)，這不僅在國内，在國際上也是出類拔萃的。

這類小尺寸的NTC熱敏電阻，採(cǎi)用藍膜包裝，适用於(yú)邦定、電子焊、插件浸錫焊等工藝，不僅僅在額溫槍用熱電堆中，在IGBT模塊、信息控制模塊、熱管式反應器控制器、光通信、半導體激光器/探測器等都有廣泛的應用。